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M. Vanzi

Veröffentlichungen von M. Vanzi zu Vanzi, M. ->
weitere Veröffentlichungen von M. Vanzi:
VLSI failure analysis by automated digital differential voltage contrast (1992)
Selective voltage contrast by digital SEM imaging (1983)
A failure analysis oriented E-beam test system (1990)
Preparation of silicon cross-sectional specimens for TEM observation (1983)
Characterization of Narrow Band Filters for Infrared Astronomy The Brγ and H2 filters (1998)
Potential of digital differential voltage contrast for the observation of latch-up phenomena in CMOS ICs (1985)
p-n Junction depth detection by interference electron microscopy (1983)
Veröffentlichungen zu Vanzi, M.
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Verfasser Titel Jahr absteigend sortierenaufsteigend sortieren
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1
Vanzi, M. VLSI failure analysis by automated digital differential voltage contrast
in: Microelectronic Engineering, in: Microelectronic Engineering . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0167-9317, ZDB-ID 1497065-X Vol. 16, No. 1-4 (1992), p. 139-156
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1992
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2
Sardo, A., Vanzi, M. Selective voltage contrast by digital SEM imaging
in: Ultramicroscopy, in: Ultramicroscopy . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0304-3991, ZDB-ID 1479043-9 Vol. 12, No. 1-2 (1983), p. 108-109
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1983
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3
Haardt, A., Morandi, C., ... A failure analysis oriented E-beam test system
in: Microelectronic Engineering, in: Microelectronic Engineering . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0167-9317, ZDB-ID 1497065-X Vol. 12, No. 1-4 (1990), p. 359-366
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1990
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4
Garulli, A., Vanzi, M., ... Preparation of silicon cross-sectional specimens for TEM observation
in: Ultramicroscopy, in: Ultramicroscopy . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0304-3991, ZDB-ID 1479043-9 Vol. 12, No. 1-2 (1983), p. 106
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1983
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5
Vanzi, L., Gennari, S., ... Characterization of Narrow Band Filters for Infrared Astronomy The Brγ and H2 filters
in: Experimental astronomy , ISSN 1572-9508, Vol. 8 (2. 1998), p. 177-186
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1998
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6
Fantini, F., Vanzi, M., ... Potential of digital differential voltage contrast for the observation of latch-up phenomena in CMOS ICs
in: Physica B+C, in: Physica B+C . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0378-4363, ZDB-ID 2208195-1 Vol. 129, No. 1-3 (1985), p. 275-277
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1985
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7
Giannini, M., Matteucci, G., ... p-n Junction depth detection by interference electron microscopy
in: Ultramicroscopy, in: Ultramicroscopy . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0304-3991, ZDB-ID 1479043-9 Vol. 12, No. 1-2 (1983), p. 105
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1983