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M.-A Nicolet

Veröffentlichungen von M.-A Nicolet zu Nicolet, M.-A. ->
weitere Veröffentlichungen von M.-A Nicolet:
Komplementäre Flip-Flop-Schaltungen mit Transistoren (1963)
Diffusion barriers in thin films (1978)
Surface Engineering - by R. Kossowsky and S.C. Singhal; published by Nijhoff, Dordrecht, 1984; 764 pp.; price, Dfl. 260.00, U.S. 89.50, £66.25. (1986)
Thermal noise in single and double injection devices (1971)
Fluctuation phenomena in single and double injection devices (1971)
Thermal oxidation of cobalt disilicide (1982)
Ion Mixing (1983)
Defects production and annealing in self-implanted Si (1991)
Defect production in Si(100) by 19F, 28Si, 40Ar, and 131Xe implantation at room temperature (1991)
Damage production and annealing in 28Si-implanted CoSi2/Si(111) heterostructures (1992)
Generation and recovery of strain in 28Si-implanted pseudomorphic GeSi films on Si(100) (1992)
Ion mixing in Al, Si, and their oxides (1984)
Aluminum contact to nickel silicide using a thin tungsten barrier (1982)
Aluminum contact to nickel silicide using a thin tungsten barrier (1982)
Study of the CuInSe"2/Mo thin film contact stability (1991)
Veröffentlichungen zu Nicolet, M.-A.
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1
Nicolet, M -A. Komplementäre Flip-Flop-Schaltungen mit Transistoren
in: Zeitschrift für angewandte Mathematik und Physik , ISSN 1420-9039, Vol. 14 (2. 1963), p. 198-199
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1963
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2
Nicolet, M.-A. Diffusion barriers in thin films
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 52, No. 3 (1978), p. 415-443
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1978
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3
Nicolet, M.-A. Surface Engineering - by R. Kossowsky and S.C. Singhal; published by Nijhoff, Dordrecht, 1984; 764 pp.; price, Dfl. 260.00, U.S. 89.50, £66.25.
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 144, No. 1 (1986), p. L108-L109
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1986
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4
Nicolet, M.-A. Thermal noise in single and double injection devices
in: Solid State Electronics, in: Solid State Electronics . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0038-1101, ZDB-ID 2012825-3 Vol. 14, No. 5 (1971), p. 377-380
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1971
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5
Nicolet, M.-A. Fluctuation phenomena in single and double injection devices
in: Solid State Electronics, in: Solid State Electronics . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0038-1101, ZDB-ID 2012825-3 Vol. 14, No. 5 (1971), p. 353-355
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1971
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6
Bartur, M., Nicolet, M. -A. Thermal oxidation of cobalt disilicide
in: Applied physics , ISSN 1432-0630, Vol. 29 (2. 1982), p. 69-70
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1982
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7
Matteson, S., Nicolet, M A. Ion Mixing
in: Annual Review of Materials Research, in: Annual Review of Materials Research. - Palo Alto, Calif., ISSN 0084-6600 Vol. 13 (1983), p. 339-362
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1983
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8
Bai, G.., Nicolet, M.-A.. Defects production and annealing in self-implanted Si
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 70, No. 2 (1991), p. 649-655
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1991
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9
Bai, G.., Nicolet, M-A.. Defect production in Si(100) by 19F, 28Si, 40Ar, and 131Xe implantation at room temperature
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 70, No. 7 (1991), p. 3551-3555
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1991
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10
Bai, G.., Nicolet, M.-A.. Damage production and annealing in 28Si-implanted CoSi2/Si(111) heterostructures
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 71, No. 2 (1992), p. 670-675
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1992
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11
Bai, G.., Nicolet, M.-A.. Generation and recovery of strain in 28Si-implanted pseudomorphic GeSi films on Si(100)
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 71, No. 9 (1992), p. 4227-4229
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1992
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12
Barcz, A. J., Nicolet, M. -A. Ion mixing in Al, Si, and their oxides
in: Applied physics , ISSN 1432-0630, Vol. 33 (3. 1984), p. 167-173
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1984
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13
Bartur, M., Nicolet, M.-A. Aluminum contact to nickel silicide using a thin tungsten barrier
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 89, No. 4 (1982), p. 387
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1982
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14
Bartur, M., Nicolet, M.-A. Aluminum contact to nickel silicide using a thin tungsten barrier
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 91, No. 2 (1982), p. 89-98
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1982
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15
Raud, S., Nicolet, M.-A. Study of the CuInSe"2/Mo thin film contact stability
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 201, No. 2 (1991), p. 361-371
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1991
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16
Bartur, M., Nicolet, M.-A. Epitaxial structure of NiSi"2-effect of thermal oxidation
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 100, No. 1 (1983), p. L13-L16
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1983
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17
Banwell, T., Nicolet, M.A. Distinguishing anisotropic from isotropic transport in ion mixing of metal/oxide bilayers
in: Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B, in: Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0168-583X, ZDB-ID 1466524-4 Vol. 19-20 (1987), p. 704-707
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1987
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18
Borgesen, P., Nicolet, M.-A. Stopping cross section measurements with thin supported films
in: Nuclear Instruments and Methods, in: Nuclear Instruments and Methods . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0029-554X, ZDB-ID 2205646-4 Vol. 140, No. 3 (1977), p. 541-548
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1977
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19
Matteson, S., Nicolet, M.-A. Electron and ion currents relevant to accurate current integration in MeV ion backscattering spectrometry
in: Nuclear Instruments and Methods, in: Nuclear Instruments and Methods . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0029-554X, ZDB-ID 2205646-4 Vol. 160, No. 2 (1979), p. 301-311
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1979
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20
Golecki, I., Nicolet, M.-A. Improvement of crystalline quality of epitaxial silicon-on-sapphire by ion implantation and furnace regrowth
in: Solid State Electronics, in: Solid State Electronics . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0038-1101, ZDB-ID 2012825-3 Vol. 23, No. 7 (1980), p. 803-806
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1980