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H. Holzbrecher

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Nachweis der Spaltproduktablagerung und -diffusion mit der Sekundärionen-Massenspektrometrie — SIMS (1978)
Improvement of the detection limit of carbon in metal alloys by Ion Microprobe Analysis (1980)
A cryopumped ion-bombardment ion source for the trace analysis of solids (1971)
Differences in growth mechanisms of oxide scales formed on ODS and conventional wrought alloys (1989)
Influence of oxygen contamination during Si low presure vapour phase epitaxy on epitaxial layer quality (1991)
Ein ortsauflosender ionendetektor mit channelplate (1976)
Ein ortsauflosender ionendetektor mit channelplate (1976)
Eignung von Tiefenprofilanalysen zur Charakterisierung von Oxidschichten an Hochtemperaturlegierungen (1987)
Quantitative determination of element distributions in silicon based thin film solar cells using SNMS (1995)
Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS (1997)
Analysis of composition and growth mechanisms of oxide scales on high temperature alloys by SNMS, SIMS, and RBS (1992)
Comparative studies of MCs+-SIMS and e−-beam SNMS for quantitative analysis of bulk materials and layered structures (1995)
Determination of lattice and grain boundary diffusion coefficients in protective alumina scales on high temperature alloys using SEM, TEM and SIMS (1995)
Comparative studies of MCs+-SIMS and e–-beam SNMS for quantitative analysis of bulk materials and layered structures (1995)
Determination of lattice and grain boundary diffusion coefficients in protective alumina scales on high temperature alloys using SEM, TEM and SIMS (1995)
Veröffentlichungen zu Holzbrecher, H.
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1
Beske, H. E., Holzbrecher, H. Nachweis der Spaltproduktablagerung und -diffusion mit der Sekundärionen-Massenspektrometrie — SIMS
in: Microchimica acta , ISSN 1436-5073, Vol. 69 (1/2. 1978), p. 201-208
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1978
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2
Beske, H. E., Holzbrecher, H., ... Improvement of the detection limit of carbon in metal alloys by Ion Microprobe Analysis
in: Microchimica acta , ISSN 1436-5073, Vol. 74 (5/6. 1980), p. 409-416
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1980
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3
Beske, H.E., Holzbrecher, H. A cryopumped ion-bombardment ion source for the trace analysis of solids
in: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, in: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0020-7381, ZDB-ID 1484635-4 Vol. 7, No. 2 (1971), p. 111-120
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1971
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4
Quadakkers, W. J., Holzbrecher, H., ... Differences in growth mechanisms of oxide scales formed on ODS and conventional wrought alloys
in: Oxidation of metals , ISSN 1573-4889, Vol. 32 (1/2. 1989), p. 67-88
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1989
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5
Gruhle, A., Schmidt, G., ... Influence of oxygen contamination during Si low presure vapour phase epitaxy on epitaxial layer quality
in: Journal of Crystal Growth, in: Journal of Crystal Growth . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0022-0248, ZDB-ID 1466514-1 Vol. 110, No. 4 (1991), p. 985-988
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1991
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6
Radermacher, L., Beske, H.E., ... Ein ortsauflosender ionendetektor mit channelplate
in: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, in: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0020-7381, ZDB-ID 1484635-4 Vol. 20, No. 2-3 (1976), p. 333-335
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1976
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7
Radermacher, L., Beske, H.E., ... Ein ortsauflosender ionendetektor mit channelplate
in: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, in: International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0020-7381, ZDB-ID 1484635-4 Vol. 20, No. 2-3 (1976), p. 333-335
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1976
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8
Naoumidis, A., Beske, H., ... Eignung von Tiefenprofilanalysen zur Charakterisierung von Oxidschichten an Hochtemperaturlegierungen
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 329 (2/3. 1987), p. 278-284
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1987
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9
Gastel, M., Breuer, U., ... Quantitative determination of element distributions in silicon based thin film solar cells using SNMS
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 353 (3/4. 1995), p. 478-482
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1995
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10
Gastel, M., Breuer, U., ... Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS
in: Fresenius' journal of analytical chemistry , ISSN 1432-1130, Vol. 358 (1/2. 1997), p. 207-210
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1997
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11
Quadakkers, W. J., Elschner, A., ... Analysis of composition and growth mechanisms of oxide scales on high temperature alloys by SNMS, SIMS, and RBS
in: Microchimica acta , ISSN 1436-5073, Vol. 107 (3/6. 1992), p. 197-206
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1992
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12
Breuer, U., Holzbrecher, H., ... Comparative studies of MCs+-SIMS and e−-beam SNMS for quantitative analysis of bulk materials and layered structures
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 353 (3/4. 1995), p. 372-377
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1995
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13
Clemens, D., Bongartz, K., ... Determination of lattice and grain boundary diffusion coefficients in protective alumina scales on high temperature alloys using SEM, TEM and SIMS
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 353 (3/4. 1995), p. 267-270
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1995
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14
Breuer, U., Holzbrecher, H., ... Comparative studies of MCs+-SIMS and e–-beam SNMS for quantitative analysis of bulk materials and layered structures
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 353 (3/4. 1995), p. 372-377
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1995
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15
Clemens, D., Bongartz, K., ... Determination of lattice and grain boundary diffusion coefficients in protective alumina scales on high temperature alloys using SEM, TEM and SIMS
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 353 (3/4. 1995), p. 267-270
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1995
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16
Breuer, U., Holzbrecher, H., ... Comparative studies of SIMS and SNMS analyses during the build up of sputter equilibrium under oxygen and rare gas ion bombardment
in: Fresenius' journal of analytical chemistry , ISSN 1432-1130, Vol. 358 (1/2. 1997), p. 47-50
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1997
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17
Baumann, I., Cusso, F., ... Praseodymium-doped Ti:LiNbO3 waveguides
in: Applied physics , ISSN 1432-0630, Vol. 68 (3. 1999), p. 321-324
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1999
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18
Schuppen, A., Jebasinski, R., ... Phosphorus redistribution during the formation of buried CoSi"2 layers by ion beam synthesis
in: Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B, in: Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0168-583X, ZDB-ID 1466524-4 Vol. 84, No. 2 (1994), p. 143-147
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1994
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19
Stimmer, J.., Reittinger, A.., ... Electroluminescence of erbium–oxygen-doped silicon diodes grown by molecular beam epitaxy
In: Applied Physics Letters. - Woodbury, NY : Inst., ISSN 1077-3118, Vol. 68, No. 23 (1996), p. 3290-3292
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1996
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20
Pfeifer, J. -P., Holzbrecher, H., ... Quantitative analysis of oxide films on ODS-alloys using MCs+-SIMS and e-beam SNMS
in: Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie , ISSN 1618-2650, Vol. 346 (1/3. 1993), p. 186-191
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1993