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Veröffentlichungen zu Fleischman, Aaron J..
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Zorman, Christian A.., Fleischman, Aaron J.., ... Epitaxial growth of 3C–SiC films on 4 in. diam (100) silicon wafers by atmospheric pressure chemical vapor deposition
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 78, No. 8 (1995), p. 5136-5138
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1995