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Verfasser Titel Jahr
zeige Details Blessing, R., Pagnia, H., ... Evidence for the contribution of an adsorbate to the voltage-controlled negative resistance of gold island film diodes
in: Thin Solid Films, in: Thin Solid Films . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0040-6090, ZDB-ID 1482896-0 Vol. 78, No. 4 (1981), p. 397-401
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1981
Copyright: Copyright (c) 2002 Elsevier Science B.V.
beteiligte Personen: Blessing, R. , Pagnia, H. , Schmitt, R.
Format: Elektronisch
Erschienen: 1981.
Serie: ScienceDirect Elsevier journal backfiles [Dig. Serial]
Schlagwörter:
URL: http://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/0040-6090(81)90043-2

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Verfasser Titel Jahr
zeige Details Chudobiak, Michael J. A voltage-controlled resistor for the remote control of monostable multivibrators
In: Review of Scientific Instruments. - [S.l.] : American Institute of Physics, ISSN 1089-7623, Vol. 66, No. 2 (1995), p. 1142-1145
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1995
zeige Details Grumann, E.., Golub, J. E.., ... Active mode locking of a diode laser by a resonant tunneling diode
In: Applied Physics Letters. - Woodbury, NY : Inst., ISSN 1077-3118, Vol. 64, No. 23 (1994), p. 3095-3097
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1994
zeige Details Arshak, K. I., Glot, A., ... The voltage-current characteristics of thin MIM sandwiches with SiO x /Bi2O3 as the insulator
in: Journal of materials science , ISSN 1573-4803, Vol. 20 (10. 1985), p. 3590-3596
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1985
zeige Details Hickmott, T. W. Voltage-dependent dielectric breakdown and voltage-controlled negative resistance in anodized Al–Al2O3–Au diodes
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 88, No. 5 (2000), p. 2805-2812
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2000
zeige Details Khan, G. A., Hogarth, C. A. Electroforming in MIM structure of SiOx and SiOx/SnO composite dielectric thin films
in: Journal of materials science , ISSN 1573-4803, Vol. 27 (10. 1992), p. 2613-2618
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1992
Abstract Electroforming and related phenomena in SiO x and SiO x -SnO thin films incorporated in copper-oxide-copper metal-insulator-metal structures have been investigated. Both types of devices showed voltage-controlled negative resistance, voltage memory effects (thermal and threshold) and... mehr
Copyright: Copyright 1992 Chapman & Hall mehr
beteiligte Personen: Khan, G. A. , Hogarth, C. A.
Format: Elektronisch
Erschienen: 1992.
Serie: Springer Online Journal Archives 1860-2000 [Dig. Serial]
Schlagwörter:
URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF00540677