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Verfasser Titel Jahr
zeige Details Madar, R., Mastromatteo, E., ... Low pressure chemical vapor deposition of massive Si"1"-"xGe"x gradient crystals and applications in short-wavelength diffraction
in: Surface & Coatings Technology, in: Surface & Coatings Technology . - Amsterdam : Elsevier, ISSN 0257-8972, ZDB-ID 1502240-7 Vol. 54-55 (1992), p. 229-233
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1992
Copyright: Copyright (c) 2002 Elsevier Science B.V.
beteiligte Personen: Madar, R. , Mastromatteo, E. , Magerl, A. , Liss, K.-D. , Bernard, C.
Format: Elektronisch
Erschienen: 1992.
Serie: ScienceDirect Elsevier journal backfiles [Dig. Serial]
Schlagwörter:
URL: http://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/0257-8972(92)90167-9

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Verfasser Titel Jahr
zeige Details Mooney, P. M.., Ott, J. A.., ... X-ray diffraction analysis of SiGe/Si heterostructures on sapphire substrates
In: Applied Physics Letters. - Woodbury, NY : Inst., ISSN 1077-3118, Vol. 73, No. 7 (1998), p. 924-926
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1998
zeige Details Li, V. Z-Q., Mirabedini, M. R.., ... Structure and properties of rapid thermal chemical vapor deposited polycrystalline silicon–germanium films on SiO2 using Si2H6, GeH4, and B2H6 gases
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 83, No. 10 (1998), p. 5469-5476
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In: Applied Physics Letters. - Woodbury, NY : Inst., ISSN 1077-3118, Vol. 60, No. 6 (1992), p. 707-709
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In: Applied Physics Letters. - Woodbury, NY : Inst., ISSN 1077-3118, Vol. 68, No. 8 (1996), p. 1123-1125
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In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 69, No. 12 (1991), p. 8158-8163
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1991