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Verfasser Titel Jahr
zeige Details Morgan, A. E.. Quantitative analysis of low alloy steels by secondary ion mass spectrometry
In: Analytical chemistry. - Columbus, Ohio : American Chemical Society, ISSN 1520-6882, Vol. 48, No. 4 (1976), p. 699-708
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1976
1. Verfasser: Morgan, A. E..
beteiligte Personen: Werner, H. W..
Format: Elektronisch
Sprache: English
Erschienen: s.l. : American Chemical Society, 1976.
Serie: ACS Legacy Archives [Dig. Serial]
Schlagwörter:
URL: http://dx.doi.org/10.1021/ac60368a020

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Verfasser Titel Jahr
zeige Details Degréve, F., Thorne, N. A., ... Metallurgical applications of secondary ion mass spectrometry (SIMS)
in: Journal of materials science , ISSN 1573-4803, Vol. 23 (12. 1988), p. 4181-4208
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1988
zeige Details Metson, J. B., Bancroft, G. M., ... Analysis for rare earth elements in accessory minerals by specimen isolated secondary ion mass spectrometry
in: Nature . - London [u.a.] : Nature Publising Group, ISSN 1476-4687, Vol. 307, No. 5949 (1984), p. 347-349
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1984
zeige Details Allen, Geoffrey C.., Warner, Anthony G.., ... Surface Analysis of Pulverised Fuel Ash by Secondary Ion Mass Spectrometry and X-ray Photoelectron Spectroscopy
in: Particle and Particle Systems Characterization, in: Particle and Particle Systems Characterization . - Weinheim : Wiley-VCH, ISSN 0934-0866, ZDB-ID 1481071-2 Vol. 3 (2. 1986), p. 89-95
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1986
zeige Details Brown, J. D.., Rüdenauer, F. G.. Use of electron beam techniques to study ion deposition in secondary ion mass spectrometry sputter craters
In: Journal of Applied Physics. - [S.l.], ISSN 1089-7550, Vol. 57, No. 8 (1985), p. 2727-2732
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1985
zeige Details McIntyre, N. S.., Weisener, C. G.., ... Analysis of zirconium-niobium pressure tube surfaces for hydrogen using secondary ion mass spectrometry (SIMS)
in: Surface and Interface Analysis, in: Surface and Interface Analysis . - Chichester [u.a.] : Wiley, ISSN 0142-2421, ZDB-ID 2023881-2 Vol. 15 (10. 1990), p. 591-597
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1990